Skip to content

Спектральный анализ Ломоносова Л. С., Фалькова О. Б.

Скачать книгу Спектральный анализ Ломоносова Л. С., Фалькова О. Б. djvu

Разработка методов спектрального анализа пошла по пути повышения его точности, чувствительности и производительности. Эталоны различных анализов и сталей для спектрального анализа. В зависимости от характера используемых спектров различают следующие их виды: Корреляционный спектральный анализ веществ комплект из 2 книг.

Остальные материалы, а также реактивы для обработки спектрограмм те же, что и при анализе Ломоносова углеродистых см. Качество поверхности должно быть не менее Rz Спектральные линии для анализа минерального сырья.

Л. Ломоносова, О. Фалькова. В книге изложены теоретические основы спектрального анализа, описаны аппаратура, применяемая для анализов, й техника работы; приведены специальные задачи спектрального анализа.

Книга предназначена в качестве учебного пособия для учащихся металлургических техникумов, а также может быть, полезна инженерно-техническим работникам лабораторий спектрального анализа. ФИЗИКА И ТЕХНИКА СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА (БИБЛИОТЕКА ИНЖЕНЕРА) Серия выпускается под общим руководством Комиссии по спектроскопии АН СССР ИЗДАТЕЛЬСТВО «НАУКА» ГЛАВНАЯ РЕДАКЦИЯ ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКОЙ ЛИТЕРАТУРЫ.  Изданные недавно руководства Л.

С. Ломоносовой и О. Б. Фальковой [], а также И. M. Кустановича [] рассчитаны на подготовку техников-спектроскопистов. Автор надеется, что предлагаемая вниманию читателей книга окажется полезной не только для студентов, изучающих спектральный анализ, но также для инженеров и лиц других специальностей. Ломоносова, Л. С. Спектральный анализ [Текст]: учеб. пособие для техникумов / Л. С. Ломоносова, О. Б. Фалькова ; ред. А. Р. Строганов.

- М.: Металлургиздат, - с.: ил.  Доп.точки доступа: Фалькова, О. Б.; Строганов, А. Р. \ред.\ Свободных экз. нет Найти похожие. полный формат краткий формат. все найденные отмеченные кроме отмеченных. Полуколичественный анализ является промежуточным между качественным и количественным ви-дами анализа и дает возможность приблизительной оценки процентного содержания определяемых элементов в пробе.

Различают два вида полуколичественного анализа: визуальный и фотографический.  М е т о д д о б а в о к. Сущность метода добавок состоит в том, что проба с небольшой концентра-цией определяемого элемента делится на 4 – 5 равных частей и в каждую из них, кроме первой, вводят-ся добавки определяемого элемента С с концентрациями С, 2С, 3С, 4С.

При этом желательно, чтобы ве-личина добавки С приблизительно соответствовала предполагаемой концентрации x определяемого элемента. Книга: Ломоносова Л. С., Фалькова О. Б. «Спектральный анализ». В книге изложены теоретические основы спектрального анализа, описаны аппаратура, применяемая для анализов, й техника работы; приведены специальные задачи спектрального анализа.

Книга предназначена в качестве учебного пособия для учащихся металлургических техникумов, а также может быть, полезна инженерно-техническимработникам лабораторий спектрального анализа. Издательство: "Государственное научно-техническое издательство литературы по черной и цветной металлургии" ().

Формат: 60x92/16, стр. Ломоносова Л.С., Фалькова О.Б. Спектральный анализ. Изложены теоретические основы спектрального анализа, описана аппаратура, применяемая для анализов, и техника работы; приведены специальные задачи спектрального.

Такая переработка вызвана тем, что спектральный анализ занимает все более широкое место в различных областях науки и техники и в нем заинтересовано большое число специалистов самого разнообразного профиля.  Изданные недавно руководства Л. С. Ломоносовой и О. Б. Фальковой [], а также И.

М. Кустановича [] рассчитаны на подготовку техников-спектроскопистов. Автор надеется, что предлагаемая вниманию читателей книга окажется полезной не только для студентов, изучающих спектральный анализ, но также для инженеров и лиц других специальностей.

Следует подчеркнуть, что в задачу этой книги не входит обучение приемам и частным методикам спектрального анализа. Съемку спектров производят с предварительным обжигом 10 с для дуги переменного тока и от 30 до 40 с для высоковольтной искры. Экспозицию выбирают в зависимости от чувствительности фотоматериалов (почернения аналитических пар должны лежать в области «нормальных»; для фотопластинок тип I область «нормальных» почернений составляет от 0,4 до 2,0).

Спектры эталонов и проб фотографируют не менее 3 раз без ослабителя по методу «трех эталонов» и через 9-ступенчатый ослабитель по методу фотометрического интерполирования.  Гостеоретиздат, Ломоносова Л.С., Фалькова О.Б.

Спектральный анализ. М., Металлургиздат,

fb2, fb2, PDF, djvu